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點燈治具和點燈測試

來源:飛時通

發布時間:2020-04-14

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點燈治具和點燈測試方法

【技術領域】

[0001]本發明屬于顯示技術領域,具體(tǐ)涉及一種點燈治具和點燈測試方法。

【背景技術】

[0002]液晶本身(shēn)并不發光(guāng),液晶顯示面闆通常采用背光(guāng)模組提供充足亮度與分(fēn)布均勻的光(guāng)源,使其能正常顯示影(yǐng)像。模組探針夾具(Cell Probe Jig)是液晶顯示行業中用于單個顯示面闆(single cell)的點燈設備,在單個顯示面闆的檢查不良與維修方面起着至關重要的作用。


[0003]對于實驗室或是工(gōng)廠(chǎng)的部分(fēn)部門(mén),需要經常利用夾具(Jig)對不同型号與尺寸的單個顯示面闆進行點燈測試。然而,現有點燈治具的夾具對不同型号與尺寸的單個顯示面闆點燈時使用的探針是不同的,進而需要更換不同的探針載體(tǐ)(不同型号與尺寸對應的探針載體(tǐ)是不同的)。所以針對每款待測液晶顯示面闆産品,相(xiàng)關部門(mén)都(dōu)需要準備相(xiàng)對應的點燈治具

[0004]但(dàn)是,點燈治具的購(gòu)買價格較高,多次購(gòu)買會提高開發成本。另外,探針一般通過螺絲安裝在基座的夾具上或者與夾具直接焊接爲一體(tǐ),每次測試前均需重新裝卸夾具或更換點燈治具,耗費時間,并且頻繁地卸下與安裝固定夾具的螺絲會使螺紋受損,縮短(duǎn)點燈治具的使用壽命。

[0005]可(kě)見(jiàn),提供一種通用性強、結構簡單、便于使用的點燈治具成爲目前亟待解決的技術問(wèn)題。


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